便携式测厚仪LS221测量原理介绍

一、磁感应测量原理介绍
　　林上LS221便携式测厚仪（https://www.linshangtech.cn/tech/tech1367.html）就是采用磁性测厚法与涡流测厚法的原理制成的仪器。采用磁感应原理时，利用从测头通过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也能够测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻 越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上能够有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层资料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器主动输出测试电流或测试信号。
　　林上LS221便携式测厚仪参数：
　　测量原理 Fe：霍尔效应/NFe：电涡流效应
　　探头类型 外置连线式
　　测量范围 0.0-2000μm
　　分辨率 0.1μm：(0μm-99.9μm)
　　1μm：(100μm-999μm)
　　0.01mm：(1.00mm-2.00mm)
　　测量精度 ≤±(3%读数+2μm)
　　单位 μm / mil
　　测量间隔 0.5s
　　测量区域 ? = 25mm
　　曲率半径 凸面：5mm 凹面：25mm
　　基体厚度 Fe：0.2mm/NFe：0.05mm
　　显示 128×48点阵LCD
　　供电方式 2节 1.5V AAA碱性电池
　　工作温度范围 0℃ ～ 50℃
　　存储温度范围 -20℃～60℃
　　主机尺寸 101*62*28 mm
　　探头尺寸 71*26*22 mm
　　重量(含电池) 114g
　　二、电涡流测量原理介绍
　　高频沟通信号在测头线圈中发生电磁场，测头接近导体时，就在其间构成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。
　　与磁感应原理比较，首要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度联系不同。与磁感应测厚仪相同，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，容许过失1%，量程10mm的高水平。还有的便携式测厚仪采用的是超声波测厚的原理，不过这种测量原理的仪器测量精度不高。